适用于对各种现代电子设备和器件进行I-V特性分析和功能测试：

■   分立和无源元件：两抽头器件，如传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻（MOV）二极管
     齐纳二极管、电容、热敏电阻；三抽头器件如小信号双极结型晶体管（BJT）、场效应晶体管（FET）

■   简单IC器件：光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器

■   集成器件：小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI）、模拟IC、射频集成电路（RFIC）、

     专用集成电路（ASIC）、片上系统（SOC）器件

■   光电器件：发光二极管（LED）、激光二极管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器

   （VCSEL）、显示器

■   圆片级可靠性：NBTI、TDDB、HCI、电迁移

■   太阳能电池

■   电池