I-V特性分析和功能测试(SMU源测量单元)
适用于对各种现代电子设备和器件进行I-V特性分析和功能测试:
■ 分立和无源元件:
两抽头器件,如传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻(MOV)二极管、齐纳二极管、电容、热敏电阻;
三抽头器件如小信号双极结型晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)
■ 简单IC器件:光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器
■ 集成器件:小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)、模拟IC、射频集成电路(RFIC)、专用集成电路(ASIC)、片上系统(SOC)器件
■ 光电器件:发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直腔面发射激光器(VCSEL)、显示器
■ 圆片级可靠性:NBTI、TDDB、HCI、电迁移
■ 太阳能电池
■ 电池
■ 故障分析
HY-SMU3000、1951A、1900B系列 源测量单元
样机申请
半导体/IC
HY-SMU3000、1951A、1900B系列 源测量单元
HY-HV 可编程高压直流电源
HY-SMU1700系列 源测量单元
HY-HVL 线性高压直流电源
HY-S 1U超薄型可编程直流电源
HY-SL 紧凑型高压直流电源
HY-S-G 1U半宽可编程大功率直流电源
HY-SL2kW 紧凑型高压直流电源
样机申请
半导体电流脉冲测试
HY-BPC-P 双极性脉冲恒流源
HY-HV 可编程高压直流电源
HY-HVL 线性高压直流电源
HY-SL 紧凑型高压直流电源
HY-SL2kW 线凑型高压直流电源
样机申请